JIS C8480-1989 柜型分电器

作者:标准资料网 时间:2024-05-21 09:12:25   浏览:9467   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:
【原文标准名称】:柜型分电器
【标准号】:JISC8480-1989
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1989-04-01
【实施或试行日期】:1989-04-01
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气设备;过流断路器;开关设备;配电盘(开关设备);过电流保护装置
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:G33
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:


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【英文标准名称】:Fibresopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents.Basictestandmeasurementsprocedures.Part2-33:tests.Assemblyanddissassemblyofclosures.
【原文标准名称】:光纤互连装置和无源元件.基本试验和测量程序.第2-33部分:试验.外壳的组装和分解
【标准号】:NFC93-902-33-1998
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:1998-03-01
【实施或试行日期】:1998-03-05
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Dismantling;Enclosures;Erecting(constructionoperation);Glassfibrecables;Measuringtechniques;Opticalwaveguides;Sleeves;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:M33
【国际标准分类号】:33_180_20
【页数】:7P.;A4
【正文语种】:其他


【英文标准名称】:StandardTestMethodforStrainGradientMeasurementsofThin,ReflectingFilmsUsinganOpticalInterferometer
【原文标准名称】:用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
【标准号】:ASTME2246-2002
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:N50
【国际标准分类号】:37_040_20
【页数】:14P;A4
【正文语种】:英语